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簡要描述：直流耐壓絕緣電阻測試儀ST5680EOL電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)
產(chǎn)品型號：ST5680EOL廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-10-30訪 問 量：107相關(guān)文章ARTICLES
詳細(xì)介紹
| 品牌 | HIOKI/日本日置 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 其他 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
為電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)
● 準(zhǔn)確檢查絕緣性能，驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量
● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣傳檢查的可靠性
● 防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出
● 防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測
● 支持廣泛的國際標(biāo)準(zhǔn)。搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測量功能。
這是提供更優(yōu)化的檢測品質(zhì)的直流耐壓絕緣電阻測試儀ST5680EOL的介紹。其性能可以支持各個國際標(biāo)準(zhǔn)的測試條件，應(yīng)對所有的直流耐壓測試。
ST5680EOL是能夠基于各種安全標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行直流耐壓測試和絕緣電阻測試的測試儀。
不僅可以進(jìn)行PASS/FAIL的合格與否判定，也可以顯示、記錄測試時的輸出電壓波形和泄漏電流波形。
將測試可視化分析，有助于檢查的溯源。
輸出電壓和泄漏電流以波形顯示
可以通過波形確認(rèn)測試時輸出電壓或泄漏電流的動向。
在確認(rèn)波形的同時，還可按時間順序確認(rèn)電壓值、泄漏電流值、電阻值。
無需使用電腦即可進(jìn)行波形放大顯示等操作，在現(xiàn)場就能進(jìn)行詳細(xì)的分析。
有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序
通過分析檢查時的波形，可以推斷出生產(chǎn)工序中的不良因素。通過查明不良因素，優(yōu)化生產(chǎn)工序，從而能夠提高生產(chǎn)效率。
有助于對收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析
可以把收回的不合格品與當(dāng)初出廠檢測時的波形做比對。通過優(yōu)化合格品的判定標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)一步提高生產(chǎn)質(zhì)量。
有助于宣傳檢查的可靠性
波形的記錄管理有利于檢查的可溯源性，構(gòu)筑更高品質(zhì)的檢查體系，可以提升客戶的信任。
可以檢測因?yàn)楹附用袒蚍蹓m異物等原因發(fā)生的電弧放電。
將引起輕微絕緣不良的產(chǎn)品判斷為微小故障品，可以防止出廠后因發(fā)熱原因引起的火災(zāi)事故或故障等風(fēng)險(xiǎn)。
通過測量端子間的電容（雜散電容、被測物的電容），能判斷是否正確連接檢測對象。
防止將不合格品誤判為合格品
?測試中測試線脫落的情況
?測試部位間電阻增加的情況
例：測試線的老化、治具或高壓繼電器的老化等
可以輕松使用
?利用兩端子可以實(shí)現(xiàn)簡單的接線
ST5680EOL是向測試對象輸出高電壓，測試絕緣性能的測試儀。可以對從電子設(shè)備、電子零件、材料等的研究開發(fā)到生產(chǎn)線的廣泛對象進(jìn)行安全測試。在電池中，用于電池模組、電池包、電芯的電極和外殼間的耐壓測試。
就算是測試對象含有電容成分的情況下，因?yàn)橛胁灰装l(fā)生過沖的設(shè)計(jì)，不會對測試對象輸出超過設(shè)置電壓的電壓，所以可以放心進(jìn)行測試。
另外，通過配合延遲時間的設(shè)置，也可以不對充電電流流動的時間進(jìn)行判斷，從而防止誤判。
※可測量的最大靜電電容量值200 nF (測量更大的電容值可能會導(dǎo)致測量時間變長，或者測量值的偏差變大。 ）
隨著電池和電機(jī)等絕緣性能的提高，對判斷耐壓測試合格與否的電流值設(shè)置要求也越來越高，要求設(shè)置為更小的電流。如果使用分辨率低的耐壓測試儀，則無法準(zhǔn)確測量泄漏電流的測量值。ST5680EOL實(shí)現(xiàn)了最小分辨率0.001uA的高精度規(guī)格，因此可以正確測量微小的泄漏電流，判斷合格與否。
搭載了確認(rèn)測試對象絕緣擊穿電壓的BDV（Break Down Voltage）功能 。
以一定速度提高輸出電壓，確認(rèn)達(dá)到絕緣擊穿時的電壓。
測試方法按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，有連續(xù)升壓測試和逐級升壓測試。
ST5680EOL兩種測試都可以實(shí)施。可用于電池開發(fā)時的性能評價(jià)(絕緣耐力評估)。
| 主要功能 | 直流耐壓測試、絕緣電阻測試、絕緣擊穿電壓測試、波形顯示功能、ARC放電檢測功能、接觸檢查功能 (詳情請參照“各測試·功能"表) |
|---|---|
| 功能一覽 | 聯(lián)鎖、自動放電、消除偏移、瞬時輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、自檢、校準(zhǔn)期限檢測、EXT SW（遠(yuǎn)程控制） |
| 使用溫濕度范圍 | 0°C～40°C，80% RH或以下（無結(jié)露） |
| 適合標(biāo)準(zhǔn) | 安全性：IEC 61010 EMC：IEC 61326 |
| 電源電壓 | AC 100 V ～ 240 V |
功耗 | 約180 VA※ ※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測試模式直流耐壓測試、測試電壓2.5 kV、負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ）的情況下。 |
最大額定功率 | 800 VA |
接口 | 通訊：USB，LAN，EXT. I/O 選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000） 存儲：U盤 |
尺寸·重量 | 305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物） |
附件 | 電源線，CD-ROM（PDF：使用說明書，通訊使用說明書），EXT.I/O用公頭連接器，EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具，啟動指南 |
| 直流耐壓測試 | 輸出電壓：DC 0.050 kV ～ 3.000 kV(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 輸出電流/截止電流：20 mA max 電流精度（*1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg. 最小分辨率：0.001 μA 測試時間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF 短路電流200 mA 以上 測試模式W→IR，IR→W，程序測試 |
|---|---|
| 絕緣電阻測試 | 輸出電壓：DC 50 V ～ 1000 V(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 電阻值顯示范圍：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）精度保證范圍：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ 電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格 測試時間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF |
| 絕緣擊穿電壓測試 | 測試方法：連續(xù)升壓測試，逐級升壓測試 測量內(nèi)容：絕緣擊穿電壓（kV），絕緣擊穿的強(qiáng)度（kV/mm） 設(shè)定內(nèi)容：初始電壓，結(jié)束電壓，升壓速度，ARC檢測，電極間距離，電流上限值 檢測有效電壓：150V以上 |
| 波形顯示功能 | 波形顯示內(nèi)容：電壓，電流，絕緣電阻 采樣速度：500 kS/s 內(nèi)存容量：512 K words |
| ARC放電檢測功能 | 檢測方式：監(jiān)視試驗(yàn)測試電壓的變動 設(shè)定內(nèi)容：測試電壓變動率1％～50％ 檢測有效電壓：150V以上 |
| 存儲功能 | ·波形·圖形 ·面板保存功能 ·數(shù)據(jù)存儲功能 |
| 判定功能（判定輸出） | 判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL） UPPER_FAIL：測量值＞上限值 PASS：上限值≥測量值≥下限值 LOWER_FAIL：測量值＜下限值 |
| 注記（*1） | 環(huán)境溫度t不足5℃時加上±(1% rdg.×(5-t ) ) 環(huán)境溫度t超過35℃時加上±(1% rdg.×(t-35 ) ) |
| 測試范圍 | 100 kΩ ～ 99.99 GΩ | |
|---|---|---|
| 10 nA ≦ I ≦ 3 μA | 100 MΩ ～ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ | ±(20% rdg.) |
| 100 nA ≦ I ≦ 30 μA | 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ | ±(5% rdg.) |
| 1 μA ≦ I ≦ 300 μA | 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ | ±(2% rdg. + 5 dgt.) |
| 10 μA ≦ I ≦ 3 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 100 μA ≦ I ≦ 20 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 注記（*2） | · 測試電壓為50 V?99 V時，測量精度加算±10% · 測試電壓為100 V?999 V時，測量精度加算±5% · 測試電壓為1000 V?2000 V時，測量精度加算±2% · 環(huán)境溫度t小于5℃時，加上測量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，或者加上測量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) ) · 環(huán)境溫度t超過35℃時，加上測量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) )，或者加上測量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) ) · 測定速度為FAST2時，測量精度加倍 | |
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