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Infiniium MXR系列示波器

簡(jiǎn)要描述:KEYSIGHT MXR404AInfiniium MXR系列示波器在所有4個(gè)模擬通道上均可提供4GHz帶寬,通過(guò) ASIC 技術(shù)實(shí)現(xiàn)更快測(cè)試速度,有效位數(shù)(ENOB)最高可達(dá)9.0,噪聲低至43µV,確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠。最大存儲(chǔ)器深度達(dá)1.6G點(diǎn)。且將8種儀器功能集于一體,大大擴(kuò)展示波器功能。同時(shí)可全面靈活升級(jí)(帶寬和通道數(shù))。

  • 產(chǎn)品型號(hào):MXR404A
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-08-17
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:166

詳細(xì)介紹

品牌KEYSIGHT/美國(guó)是德產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域綜合

全部 4 個(gè)通道均可提供 4 GHz 帶寬;可通過(guò)選件構(gòu)成強(qiáng)大的 8 合 1 儀器;具有出色的硬件加速繪圖功能;可以全面升級(jí),包括設(shè)計(jì)到 6 GHz 帶寬和 8 個(gè)通道。

KEYSIGHT MXR404A Infiniium MXR 系列示波器在所有4個(gè)模擬通道上均可提供4GHz帶寬,通過(guò) ASIC 技術(shù)實(shí)現(xiàn)更快測(cè)試速度,有效位數(shù)(ENOB)最高可達(dá)9.0,噪聲低至43µV,確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠。最大存儲(chǔ)器深度達(dá)1.6G點(diǎn)。且將8種儀器功能集于一體,大大擴(kuò)展示波器功能。同時(shí)可全面靈活升級(jí)(帶寬和通道數(shù))。

 

特點(diǎn)

  • 全部 4 個(gè)模擬通道上均可提供 4 GHz 帶寬

  • 通過(guò) ASIC 技術(shù)實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)試速度

  • 有效位數(shù)(ENOB)最高達(dá)到 9.0,噪聲低至 43 µV,確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠

  • 最大存儲(chǔ)器深度達(dá)到靈活的 1.6 G 點(diǎn)

  • 將 8 種儀器的功能集于一身,大大擴(kuò)展了示波器的功能

  • 可以全面和靈活地升級(jí)――包括帶寬升級(jí)和通道數(shù)升級(jí)

 

附件包括:

  • 每通道 1 個(gè) N2873A 500 MHz 無(wú)源探頭

  • 探頭附件袋

  • 符合當(dāng)?shù)貥?biāo)準(zhǔn)的電源線(xiàn)

  • 前面板保護(hù)蓋

  • BNC 校準(zhǔn)電纜

  • 鍵盤(pán)和鼠標(biāo)

  • Keysight I/O 程序庫(kù)套件、用戶(hù)指南和程序員指南(保存在示波器硬盤(pán)上交付)

  • 服務(wù)指南可從網(wǎng)站上下載

 

免費(fèi)下載控制儀器的BenchVue Basic基礎(chǔ)型應(yīng)用軟件。



儀器租賃,使IC設(shè)計(jì)驗(yàn)證更高效

當(dāng)前IC(Integrated Circuit)領(lǐng)域各種新技術(shù)和新標(biāo)準(zhǔn)不斷涌現(xiàn),如SATA、DVI、10GEA、XFP、UXF等等,同時(shí)性能指標(biāo)也不斷提高,如數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量和傳輸速度等。意味著IC電路布局集成密度增加,數(shù)據(jù)率提高、電源電壓減小、信號(hào)和時(shí)鐘抖動(dòng)和噪聲閾值降低,電源電壓減小削弱路徑抗干擾性,合理設(shè)計(jì)PCB)跡線(xiàn)、通孔、連接器和電纜至關(guān)重要。

 

軟件設(shè)計(jì)原理圖和仿真完成后,為排除電路板故障隱患,確保每一個(gè)器件、每一個(gè)信號(hào)、每一個(gè)單元模塊都正常工作,即確保 IC滿(mǎn)足功能目標(biāo),硬件測(cè)試環(huán)節(jié)每一步都至關(guān)重要,包括PCB驗(yàn)證、元器件驗(yàn)證、單元功能驗(yàn)證、內(nèi)外總線(xiàn)驗(yàn)證、設(shè)計(jì)功能測(cè)試等。硬件測(cè)試確保量產(chǎn)和經(jīng)濟(jì)價(jià)值的實(shí)現(xiàn)。

 

IC硬件測(cè)試一般分為非上電和上電測(cè)試兩大部分,先在非上電環(huán)境下做性能測(cè)試,通過(guò)后再上電測(cè)試。

 

一、非上電環(huán)節(jié)測(cè)試方案:

  1. 依據(jù)電路原理圖,檢查芯片電源、節(jié)點(diǎn)標(biāo)注及連線(xiàn)是否正確。測(cè)量電源輸入阻抗,確認(rèn)電源電壓正常。

  2. 按電路圖及元器件封裝型號(hào)和引腳順序,按順序檢查元器件安裝是否正確。做開(kāi)路、短路測(cè)試。

 

二、上電環(huán)節(jié)測(cè)試方案:

  1. 通電后先觀(guān)察電路板是否有異常(包括冒煙、異味、發(fā)燙等),一旦出現(xiàn)立即斷電,排除故障后再上電,

  2. 靜態(tài)調(diào)試(一般指不加入信號(hào)或只加固定電平信號(hào)做直流測(cè)試)和動(dòng)態(tài)測(cè)試(在電路板輸入端輸入合適激勵(lì)信號(hào)),檢測(cè)各點(diǎn)電位判斷直流工作是否正常,及各測(cè)試點(diǎn)輸出信號(hào)是否正常。
    測(cè)試工具

     

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  3. 元器件測(cè)試方案,主要包括短路測(cè)試、阻抗驗(yàn)證、串?dāng)_情況等,以及測(cè)試PCB、Cable、Connector等傳輸線(xiàn)特征阻抗(阻抗不匹配會(huì)引起反射、EMI、回波損耗等問(wèn)題,為合理設(shè)計(jì)PCB跡線(xiàn)、通孔、連接器和電纜,可通過(guò)示波器眼圖實(shí)時(shí)判定信號(hào)質(zhì)量,識(shí)別不良場(chǎng)景以便進(jìn)一步分析調(diào)試。同時(shí)準(zhǔn)確測(cè)量并分解抖動(dòng)和噪聲,并對(duì)重要信號(hào)跡線(xiàn)執(zhí)行TDR/TDT測(cè)量也必要,性能指標(biāo)一般包括插入/回波損耗、近端 (NEXT) /遠(yuǎn)端(FEXT)串?dāng)_。以及采用頻域-時(shí)域參數(shù)轉(zhuǎn)換查看信號(hào)結(jié)構(gòu)不連續(xù)性、阻抗及上升/下降時(shí)間、對(duì)內(nèi)/對(duì)間延遲差、根據(jù)測(cè)量S 參數(shù)開(kāi)展眼圖模板測(cè)試等。
    測(cè)試工具

     

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  4. 基本功能驗(yàn)證方案
    驗(yàn)證測(cè)試時(shí)注意確保測(cè)試儀器接地正確,儀器帶寬大于被測(cè)電路帶寬、測(cè)試點(diǎn)選擇正確。測(cè)試項(xiàng)目包括以下:
    測(cè)試工具

     

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    1. 信號(hào)特征定量分析:幅度、頻率、上升/下降時(shí)間、脈沖寬度/個(gè)數(shù)、過(guò)沖等

    2. 電路偶發(fā)故障,分析研究其原因并排除故障

    3. 信號(hào)完整性測(cè)試:是否有噪聲、過(guò)沖、抖動(dòng)等

    4. 射頻信號(hào)頻譜/調(diào)制分析

    5. 電流-電壓瞬態(tài)功率測(cè)量

    6. 信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)情況,及其他自定義方法分析


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