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TH2840A 精密LCR數字電橋

簡要描述:■ 測試頻率:20Hz-500kHz■ 高穩定性和一致性:14個量程配置■ 高功率:信號電平:20VAC/100mAAC 內置直流偏置:±40VDC/100mADC 內置電流源:±2A■ DCR電平:20VDC/100mADC■ 高速度:雙CPU架構,測量速度高達1000次/s■ 高分辨:10.1英寸,分辨率1280*800,電容式觸摸屏■ 點測、列表掃描、圖形掃描三種測試方式■ 四參數測量■ 201點多參數列表掃描功能■ 圖形掃描功能,4軌跡任意選擇,支持1/2/4分屏■ 分選功能:LCR模式10檔分選■ 高兼容性:支持SCPI/MODBUS指令集, 兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-12-10
  • 訪  問  量:380

詳細介紹

簡介
應用

無源元件:

電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組

件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。

半導體元件:

LED驅動集成電路寄生參數測試分析;變容二極管的C-VDC特性;

晶體管或集成電路的寄生參數分析

其它元件:

印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介質材料:

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估

磁性材料:

鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料:

半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性


技術參數

產品型號

TH2840A

TH2840B

顯示

顯示器

10.1英寸電容觸摸屏

比例

16:9

分辨率

1280×RGB×800

測量參數

方式

四參數任意選擇

AC

Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC

DC

RDC、VDC、IDC

測試頻率

范圍

20Hz-500kHz

20Hz-2MHz

精度

0.01%

分辨率

0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz)

1mHz (100.000Hz-999.999Hz)

10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz)

100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz )

1Hz (100.000kHz-999.999kHz)

10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz)

AC測試信號模式

額定值(ALC OFF)

設定電壓為測試端開路時Hcur電壓

設定電流為測試端短路時從Hcur流出電流

恒定值(ALC ON)

保持DUT上電壓與設定值相同

保持DUT上電流與設定值相同

測試電平

電壓范圍

5mVrms-20Vrms

F≤1MHz 5mVrms-20Vrms

F>1MHz 5mVrms-15Vrms

準確度

±(10%×設定值+2mV)(AC≤2Vrms)

±(10%×設定值+5mV)(AC>2Vrms)

分辨率

1mVrms(5mVrms-0.2Vrms)

1mVrms(0.2Vrms-0.5Vrms)

1mVrms(0.5Vrms-1Vrms)

10mVrms(1Vrms-2Vrms)

10mVrms(2Vrms-5Vrms)

10mVrms(5Vrms-10Vrms)

10mVrms(10Vrms-20Vrms)

電流范圍

50μArms-100mArms

分辨率(100Ω內阻)

10μArms (50μArms-2mArms)

10μArms (2mArms-5mArms)

10μArms (5mArms-10mArms)

100μArms (10mArms-20mArms)

100μArms (20mArms-50mArms)

100μArms (50mArms-100mArms)

RDC測試

電壓范圍

100mV-20V

分辨率

1mV(0V-1V)

10mV(1V-20V)

電流范圍

0mA-100mA

分辨率

10μA(0mA-10mA)

100μA(10mA-100mA)

DC偏置

電壓范圍

0V-±40V

準確度

AC≤2V 1%×設定電壓+5mV

AC>2V 2%×設定電壓+8mV

分辨率

1mV(0V-1V)

10mV(±1V- ±40V)

電流范圍

0mA-±100mA

分辨率

10μA(0mA-10mA)

100μA(10mA-100mA)

內置電流源

電流范圍

0mA-2A

準確度

I>5mA ±(2%×設定值+2mA)

分辨率

1mA

測試端配置

四端對

測試電纜長度

0m、1m、2m、4m

輸出阻抗

30Ω,±4%@1kHz

100Ω,±2%@1kHz

數學運算

與標稱值的偏差Δ,與標稱值的百分比偏差Δ%

等效方式

串聯、并聯

校準功能

開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD

測量平均

1-255次

量程選擇

自動AUTO、手動HOLD

量程配置

LCR

100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ

RDC

1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ

測量時間(ms)

快速+: 1ms

快速:3.3ms

中速: 90ms

慢速: 220ms

準確度

0.05%(具體參考說明書)

測量顯示范圍

Cs、Cp

0.00001pF-9.99999F

Ls、Lp

0.00001μH-99.9999kH

D

0.00001-9.99999

Q

0.00001-99999.9

R、Rs、Rp、X、Z、RDC

0.001mΩ-99.9999MΩ

G、B、Y

0.00001μs-99.9999S

VDC

±0V-±999.999V

IDC

±0A-±999.999A

θr

-3.14159-3.14159

θd

-179.999°-179.999°

Δ%

±(0.000%-999.9%)

多功能參數列表掃描

點數

201點,每個點可設置平均次數,每個點可單獨分選

參數

測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流(100mA)、DC BIAS電流(2A)

觸發模式

順序SEQ:當一次觸發后,在所有掃描點測量,/EOM/INDEX只輸出一次

步進STEP:每次觸發執行一個掃描點測量,每點均輸出/EOM/INDEX,但列表掃描比較器結果只在最后的/EOM才輸出

其他特點

1.掃描參數與測試參數都有多種復制功能

2.每個掃描點均可設置延時

比較器

每個掃描點最多可測量四個測試參數,每個參數均可設置上下限,所有測試參數都合格輸出PASS信號,否則輸出FAIL信號,未設上下限則不判斷

圖形掃描

掃描點數

51、101、201、401、801點可選

結果顯示

每個參數的極值以及光標所在點的掃描參數值與對應的測試參數值

掃描軌跡

1-4個測試參數任意選擇,掃描曲線可以一分屏、二分屏、四分屏

顯示范圍

實時自動、鎖定

坐標標尺

對數、線性

掃描參數

頻率、AC電壓、AC電流、DCV BIAS / DCI BIAS(100mA) / DCI BIAS(2A)

觸發方式

單次

手動觸發一次,從起點到終點一次掃描完成,下個觸發信號啟動新一次掃描

連續

從起點到終點無限次循環掃描

結果保存

圖形、文件

比較器

Bin分檔

10Bin、PASS、FAIL

Bin偏差設置

偏差值、百分偏差值、關

Bin模式

容差、連續

Bin計數

0-99999

檔判別

每檔最多可設置四個參數極限范圍,四個測試參數結果設檔范圍內顯示對應檔號,超出設定檔號范圍則顯示FAIL,未設置上下限的測試參數自動忽略檔判別

PASS/FAIL指示

滿足Bin1-10,前面板PASS燈亮,否則FAIL燈量

數據緩存

201個測量結果可分批讀取

存儲調用

內部

約100M非易失存儲器測試設定文件

外置USB

測試設定文件、截屏圖形、記錄文件

鍵盤鎖定

可鎖定前面板按鍵,其他功能待擴充

接口

USB HOST

2個USB HOST接口,可同時接鼠標、鍵盤,U盤同時只能使用一個

USB DEVICE

通用串行總線插座,小型B類(4個接觸位置);與USB TMC-USB488和USB2.0相符合,陰接頭用于連接外部控制器。

LAN

10/100M以太網自適應

HANDLER

用于Bin分檔信號輸出

外部DC BIAS控制

支持TH1778A

RS232C

標準9針,交叉

RS485

可以接受改制或外接RS232轉RS485模塊

開機預熱時間

60分鐘

輸入電壓

100-120VAC/198-242VAC可選擇,47-63Hz

功耗

不小于130VA

尺寸(WxHxD)mm3

430x177x265

重量(kg)

11kg


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